1. 仪器须避免碰撞与冲击：

  贵重精密仪器须避免碰撞与承受冲击.应加倍小心使用。 应经常检查仪器外观是否完好无损,是否有冲击碰撞痕迹.

   2. 仪器须避免异常响声：

仪器在使用过程中当有异常响声时，应立即停止工作。

   3. Kapton分析窗损坏：

Kapton 分析窗能起到有效地保护机器内部环境。一旦发现损坏，就应该立即更换。不得使用无Kapton分析窗的分析仪进行任何测试。也不能使用其它薄膜粘贴在 Kapton分析窗上进行测试,由于探测器（Detector）、X射线管（X-tube）是精密部件它们与Kapton分析窗很接近,在更换 Kapton分析窗时,一定要先清理Kapton分析窗上面、周边的污垢与测试样品残渣等异物，以免异物进入机器内部。此外，请小心松开或旋紧 Kapton分析窗螺丝，在松开或旋紧Kapton分析窗螺丝的过程中，可以用手挡住测试孔，以免螺丝批意外伸进测试窗口损坏探测器、X射线管（X- tube）等精密零部件。一旦探测器（Detector）、X射线管（X-tube受损，整个分析仪就会造成不可逆转的物理性损坏，任何物理性损坏皆不属 于保修范围。硬件损坏的机器必须联系售后。

  4. 仪器须避免过度发热：仪器长时间工作会发热，机器连续作业2小时应休息20分钟，下班后机器电源必须关闭以免发热.仪器使用环境应加强空气流通。

  5. 仪器不使用时应装入所配备的橡胶手提箱内，并存放在干燥、阴凉的环境中。

  6. 显示屏可以用手指直接触摸使用，不要使用尖锐的物体触摸显示屏，以免划伤屏幕。触摸屏幕不要用力过大、过猛，并防止外力撞击。

    7. 探测器为易损部件，禁止任何物体伸进探测窗口内部。

  8. 样品的处理

   待分析的样品应该是均匀的、纯粹的，不能有涂层、镀层或氧化层，以免产生干扰。

   样品的测试面应平整光滑。凹凸不平的表面会影响分析结果的准确性。

   探测窗口和样品之间为零距离，不应有空隙。

   分析样品时，仪器和样品要保持稳定，不要晃动。

   分析较小较薄的样品时，要注意其背后不应有其他物体衬托，以防干扰。

   大型的金属样品，应多选几个点，多测几次，以获取更加准确的结果。

   9.分析仪在在遇到故障时应首先咨询售后，简单的故障可在工程师的指导下处理。处理后还是不能排除故障再咨询伊诺斯服务工程师，所有来自软件的故障皆可排除，对于硬件故障则需要送回维修中心维修。仪器在送回维修中心前客户应仔细检查机器是否有物理性损坏。